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案例分享‖東華分析DH7000系列電化學工作站GΩ量級金屬涂層EIS測試

更新時間：2023-08-22

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電化學阻抗譜（EIS）是腐蝕科學中一種重要的頻率域研究測試方法，是研究金屬電化學腐蝕動力學、金屬和涂層的腐蝕機制及耐蝕性能的重要方法之一。涂層是防止金屬腐蝕的一種重要手段，用EIS方法可以在不同頻率段分別測得從參比電極到涂層之間的雙電層電容C_dl、溶液電阻R_s、電荷傳遞電阻R_ct以及涂層(ceng)(ceng)微(wei)孔電(dian)容等其它與涂層(ceng)(ceng)耐腐(fu)蝕性(xing)能和涂層(ceng)(ceng)腐(fu)蝕過程的相關信息。

盡管，五金涂覆一半掌握著高抗阻匹配的因素，其抗阻匹配數數據量可能滿足GΩ左右，須得檢測實驗室設備掌握著十分高的輸人抗阻匹配、掌握精確度數據采集細小電磁波的程度。怎樣才能更準確的精確預估并收獲該數數據量下涂覆的交流活動抗阻匹配譜，掌握著十分大的困難程度。東華具體分析DH7000款型電藥劑學工作的站協助法拉第禁掉箱，夠更準確的精確預估高達到百GΩ抗阻匹配數數據量的涂覆抗阻匹配。接法圖方試方法：基本三探針接法圖方試方法，SE與G短接后接屏蔽掉箱，會有效從而提高測量儀器錄入阻抗匹配并且有效降低系統背景噪聲。

圖1 接線方式

測試案例：

圖2 7000C測試高阻涂層樣品阻抗圖

Nyquist圖

Bode圖

雙參比電極：

慣用參比參比參比探針具備著健康的參比參比探針電勢穩界定性，因為一些參比參比參比探針因有著多孔輥道窯衛浴陶瓷或輥道窯玻璃鋼封好，它們之間的電阻器較大的，與恒電勢儀相互配合使用的時，往往會使校正的異常日期很慢，另一方面添加了50Hz的干攏，在高頻時，會現身相位傾斜（高出90°）的方面。為了能取得參比探針材料電勢一同又不直接影響工作死機事件的參比參比探針材料，可把普普通通型參比參比探針材料與鉑絲參比探針材料按圖 3 相互接，構成一條雙參比參比探針材料。本身雙參比參比探針材料的電勢由普普通通型參比參比探針材料所所決定，它能保持好好的參比探針材料電勢相對穩相關性，還有就是利用雙參比參比探針材料時，50Hz電磁波輻射可由濾波電容 C濾去，關鍵在于避免了電磁波輻射，極大的縮減死機事件。

圖 3 雙參比電極結構

圖4 使用雙參比電極前后高阻涂層樣品頻率—相位角圖

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